Aehr Test Systems mit Fortschritten bei Testlösungen für KI- und Speicherchips – Quartalsüberraschung könnte für Short Squeeze sorgen!

Aehr Test Systems (AEHR) liefert mit FOX-XP und FOX-NP spezielle Systeme für Burn-In- und Zuverlässigkeitstests, um integrierte Schaltungen bereits in Waferform und nicht erst nach der Verpackung in den Gehäusen überprüfen zu können. So lässt sich früh feststellen, dass die Chips nach der Produktion fehlerfrei funktionieren. Das Kerngeschäft mit Siliziumkarbid (SiC) für Elektrofahrzeuge steht weiterhin unter Druck, jedoch wird SiC auch bei Solaranlagen, Industrieanwendungen oder Rechenzentren immer relevanter, was laut CEO Gayn Erickson...